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Modern Characterization of Electromagnetic Systems and its Associated Metrology
von:
Tapan K. Sarkar, Magdalena Salazar-Palma, Ming Da Zhu, Heng Chen
Verlag:
Preis:
131,99 €
Format:
PDF
Sprache:
englisch
Anzahl Seiten:
720
DRM-geschütztes eBook, Sie benötigen z.B. Adobe Digital Editions und eine Adobe ID zum Lesen.
Modern Characterization of Electromagnetic Systems and its Associated Metrology
von:
Tapan K. Sarkar, Magdalena Salazar-Palma, Ming Da Zhu, Heng Chen
Verlag:
Preis:
131,99 €
Format:
EPUB
Sprache:
englisch
Anzahl Seiten:
720
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